高效VPH光柵，接近衍射極限的光學分辨率
攝像機鏈路接口，能夠實現250kHz的最大線掃描速率
優異的滾降性能，實現更深層成像
穩定可靠的技術，無需頻繁校準
波長范圍和相機可根據需要定制
產品簡介鑒知 ST840E光譜儀是一種高速、穩定的商用OCT（光學相干層析成像）光譜儀。它具有高分辨率、高信噪比、大成像深度的三維層析成像能力，廣泛應用于激光焊接等工業檢測領域。
ST840E光譜儀具有Camera Link接口，可實現250 kHz的最大線掃描速率。
應用領域金屬切削檢驗
電子顯示器平整度檢測
焊池檢查
多層涂料均勻性檢驗
焊縫滲透及形貌測量的OCT系統
（1） 高精度孔深測量的實時二維掃描
（2）三維掃描，焊縫熔池形態綜合監測
技術特點高效VPH光柵，接近衍射極限的光學分辨率
攝像機鏈路接口，能夠實現250kHz的最大線掃描速率
優異的滾降性能，實現更深層成像
穩定可靠的技術，無需頻繁校準
波長范圍和相機可根據需要定制
產品參數探測器 | 性能指標 | 參數 |
類型 | 線陣CMOS | |
有效像素 | 2048pixels | |
像元尺寸 | 10*200μm | |
感光面積 | 20.4*0.2mm | |
最大線掃速度 | 250kHz（Cameralink） | |
光學參數 | 波長范圍 | 820-860 |
光學分辨率 | 0.02nm | |
成像深度 | 8mm | |
光學設計 | VPH光柵 | |
入射光接口 | FC/APC 光纖接口 | |
電學參數 | 數據輸出接口 | Camera Link |
ADC 位深 | 10/12bit | |
供電電源 | DC 10 to 15V | |
工作功耗 | ＜3W | |
工作溫度 | 0°C~50°C | |
存儲溫度 | -20°C~60°C | |
工作濕度 | ＜85%RH（不結露） | |
物理參數 | 尺寸 | 275*80*60.5mm |
重量 | 2kg |
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